On-line characterization of submicron particles from high concentration sources
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1997 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 112897 |
| Erscheinungsvermerk | In: Abstracts of the 16th Annual Conference AAAR '97, Denver, Colo. 1997. |