Chemical characterisation of NIST silicate glass certified reference material SRM 610 by ICP-MS, TIMS, LIMS, SSMS, INAA, AAS and PIXE

Rocholl, Alexander B. E.; Gehann, Roland; Kramar, Utz; Luecke, Werner; [u. a.]

Seitenaufrufe: 18
seit 15.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Fakultät für Bauingenieur-, Geo- und Umweltwissenschaften – Institut für Petrographie und Geochemie (Inst. f. Petrograph. u. Geochem.)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1997
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 116297
Erscheinungsvermerk	Geostand. newsl. 21 (1997) H. 1 S. 101-114.