Faster contrast measurement of LCDs with improved conoscopic methods

Fritsch, Michael; Haas, Gunther; Woehler, Henning; Eschler, Johannes; Hornetz, Volker; Mlynski, Dieter A.

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seit 16.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Theoretische Elektrotechnik und Meßtechnik (Inst. f. Theoret. Elektrotech. u. Meßtech.)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	1989
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 117389
Erscheinungsvermerk	In: Proceedings of the 9th International Display Research Conference. Japan Display '89, Kyoto, Japan 1989. S. 372-375.
Bemerkung zur Veröffentlichung	Sonderdrucknummer 90S53