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Vergleich gestrahlter Störfestigkeitsprüfung nach IEC 1000-4-3 mit HF-Strominjektionsprüfung auf Oberflächen von Gehäusen

Bernauer, Jürgen; Wolfsperger, Hans; Schwab, Adolf J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1998
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 117498
Erscheinungsvermerk Elektrie 51 (1997) S. 359-362.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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