KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

PD-pattern recognition of on-site measurement data

Badent, Rainer; Rudolph, Olaf; Zierhut, Wolfgang; Breuer, A.; Schwab, Adolf J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 117898
Erscheinungsvermerk In: Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena, Atlanta, USA 1998.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page