PD-pattern recognition of on-site measurement data

Badent, Rainer; Rudolph, Olaf; Zierhut, Wolfgang; Breuer, A.; Schwab, Adolf J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	1998
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 117898
Erscheinungsvermerk	In: Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena, Atlanta, USA 1998.