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A modified Ritz method for the calculation of deformation profiles in chiral nematic liquid crystal cells

Woehler, Henning; Fritsch, Michael; Haas, Gunther; Mlynski, Dieter A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Elektrotechnik und Meßtechnik (Inst. f. Theoret. Elektrotech. u. Meßtech.)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 118289
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the 9th International Display Research Conference. Japan Display '89, Kyoto, Japan 1989. S. 376-379.
Bemerkung zur Veröffentlichung Sonderdrucknummer 90S62
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