A modified Ritz method for the calculation of deformation profiles in chiral nematic liquid crystal cells

Woehler, Henning; Fritsch, Michael; Haas, Gunther; Mlynski, Dieter A.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Theoretische Elektrotechnik und Meßtechnik (Inst. f. Theoret. Elektrotech. u. Meßtech.)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	1989
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 118289
Erscheinungsvermerk	In: Proceedings of the 9th International Display Research Conference. Japan Display '89, Kyoto, Japan 1989. S. 376-379.
Bemerkung zur Veröffentlichung	Sonderdrucknummer 90S62