Die effiziente Modellierung dünner Leiterstrukturen mit dem TLM-Verfahren
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 118398 |
| Erscheinungsvermerk | In: Elektromagnetische Verträglichkeit. EMV '98. Hrsg.: A.J. Schwab. Berlin 1998. S. 153-160. |