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Die effiziente Modellierung dünner Leiterstrukturen mit dem TLM-Verfahren

Fischer, Peter; Skowronek, Tim; Schwab, Adolf J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1998
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 118398
Erscheinungsvermerk In: Elektromagnetische Verträglichkeit. EMV '98. Hrsg.: A.J. Schwab. Berlin 1998. S. 153-160.
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