The value of additional knowledge in measurement - a Bayesian approach
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0263-2241 KITopen-ID: 119099 |
| Erschienen in | Measurement |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 25 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 1 - 7 |