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The value and use of additional knowledge in measurement

Beyerer, Jürgen; Mesch, Franz


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 119199
Erschienen in Proceedings and program / International Workshop on Advances of Measurement Science, June 20 - 21, 1999
Verlag Ritsumeikan Univ.
Seiten 209 - 227
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