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Detection of chatter marks in honing textures

Krahe, Doris; Beyerer, Jürgen


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 119499
Erschienen in Proceedings / WTA '98, Workshop on Texture Analysis 1998. Ed.: H. Burkhardt
Verlag Albert-Ludwigs-Universität Freiburg
Seiten 93 - 107
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