KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Characteristics of ion-implanted contacts for nuclear particle detectors. Concentration distribution in ion-implanted contacts for semiconductor detectors

Meyer, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1969
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120002529
Erschienen in Nuclear Instruments and Methods
Band 70
Seiten 285-90
Erscheinungsvermerk KFK-1015 (Mai 69)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page