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Characteristics of ion-implanted contacts for nuclear particle detectors I. Window thickness on ion-implanted semiconductor detectors

Meyer, O.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1969
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120002531
Erschienen in Nuclear Instruments and Methods
Band 70
Seiten 279-84
Erscheinungsvermerk KFK-1015 (Mai 69)
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