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Eine neue verbesserte Hochtemperatur-Roentgen-Diffraktometerkammer. New, Improved High Temperature X-Ray Diffractometer Camera

Politis, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1970
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 120004138
Erschienen in Praktische Metallographie
Band 7
Seiten 328-29
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