Expected Number of Subassembly Failures Due to Hot Spot Occurrences
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Reaktorentwicklung (IRE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1971 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120004949 |
| Erschienen in | Nuclear Science and Engineering |
| Band | 43 |
| Seiten | 239-40 |