KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Expected Number of Subassembly Failures Due to Hot Spot Occurrences

Amendola, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Reaktorentwicklung (IRE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1971
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120004949
Erschienen in Nuclear Science and Engineering
Band 43
Seiten 239-40
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page