Analysis of Phosphosilicate Glass Layers by Backscattering and Channelling Effect Measurements
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Kernphysik (IAK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1973 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120006046 |
| Erschienen in | Physica status solidi (a) |
| Band | 16 |
| Seiten | 377-84 |
| Erscheinungsvermerk | KFK-1525 (April 72 - April 73) |