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Analysis of Phosphosilicate Glass Layers by Backscattering and Channelling Effect Measurements

Linker, G.; Meyer, O.; Scherber, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1973
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120006046
Erschienen in Physica status solidi (a)
Band 16
Seiten 377-84
Erscheinungsvermerk KFK-1525 (April 72 - April 73)
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