Backscattering Energy Loss Parameter Measurements in Thin Metal Films
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Kernphysik (IAK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1973 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120006686 |
| Erschienen in | Thin Solid Films |
| Band | 19 |
| Seiten | 177-85 |
| Erscheinungsvermerk | International Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis, IBM-Research, Yorktown Heights, N.Y., June 18-20, 1973 |