Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Kernphysik (IAK) |
Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
Publikationsjahr | 1973 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 120006688 |
Erschienen in | Thin Solid Films |
Band | 19 |
Seiten | 217-26 |
Erscheinungsvermerk | International Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis, IBM-Research, Yorktown Heights, N.Y., June 18-20, 1973 |