Comparison of Backscattering Parameters Using High Energy Oxygen and Helium Ions

Petersson, S.; Tove, P. A.; Meyer, O.; Sundqvist, B.; Johansson, A.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1973
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 120006693
Erschienen in	Thin Solid Films
Band	19
Seiten	157-64
Erscheinungsvermerk	International Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis, IBM-Research, Yorktown Heights, N.Y., June 18-20, 1973