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Comparison of Backscattering Parameters Using High Energy Oxygen and Helium Ions

Petersson, S.; Tove, P.A.; Meyer, O.; Sundqvist, B.; Johansson, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1973
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120006693
Erschienen in Thin Solid Films
Band 19
Seiten 157-64
Erscheinungsvermerk International Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis, IBM-Research, Yorktown Heights, N.Y., June 18-20, 1973
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