Automatic image analysis in materials science
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1973 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120006767 |
| Seiten | 39-58 |
| Erscheinungsvermerk | 20.International Symposium on Electron Microscopy, Cambridge/UK, July 16-20, 1973 Metallographie-Tagung, Iserlohn, 12.-14.September 1973 Microscope, 22(1974) |