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Automatic image analysis in materials science

Nazare, S.; Ondracek, G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1973
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120006767
Seiten 39-58
Erscheinungsvermerk 20.International Symposium on Electron Microscopy, Cambridge/UK, July 16-20, 1973 Metallographie-Tagung, Iserlohn, 12.-14.September 1973 Microscope, 22(1974)
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