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Systematische Fehler bei der Flaechenanalyse mit der Kombination Epidiaskop - Bildanalysator

Schulz, B.; Biel, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1975
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 120007785
Erschienen in Praktische Metallographie
Band 12
Seiten 18-24
Erscheinungsvermerk KFK-2136 (Januar 75)
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