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Latent Fading in Solid-State Track Etching Detectors

Piesch, E.; Sayed, A. M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Hauptabteilung Sicherheit (HS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1974
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120007999
Erschienen in Nuclear Instruments and Methods
Band 119
Seiten 367-71
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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