Prospects for achieving a high beam quality and resolution in a high voltage microwave microscope with microwave correction lenses
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1976 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120009398 |
| Erschienen in | Optik |
| Band | 44 |
| Seiten | 427-45 |