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Prospects for achieving a high beam quality and resolution in a high voltage microwave microscope with microwave correction lenses

Passow, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1976
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120009398
Erschienen in Optik
Band 44
Seiten 427-45
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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