Damage effects and recovery in LiF:Mg, Ti thermoluminescent dosimeters after long-term annealing at 400⁰C

Piesch, E.; Burgkhardt, B.; Hofmann, I.

Seitenaufrufe: 33
seit 31.07.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Hauptabteilung Sicherheit (HS)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1976
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 120010379
Erschienen in	Nuclear Instruments and Methods
Band	138
Seiten	157-63