Channelling effect measurements of ⁴He-induced damage in V₃Si single crystals
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Kernphysik (IAK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1978 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120010710 |
| Erschienen in | Solid State Communications |
| Band | 22 |
| Seiten | 603-07 |
| Erscheinungsvermerk | (1977) In: KfK-2659 (Maerz 78) |