Stereological microstructure analysis as a tool for quantitative quality control and property determination
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Hauptabteilung Versuchstechnik (HVT) Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1977 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120010859 |
| Erschienen in | Journal of Microscopy |
| Band | 107 |
| Erscheinungsvermerk | (1976) S.335-41 In: Newsletter'77 in Stereology, KFK-Ext.06/77-03 (Dezember 77) S.103-104 |