Anwendung der Auger-Elektronenspektroskopie-Profilanalyse und der Sekundaerionenmassenspektrometrie auf die Untersuchung von Veraenderungen der Oberflaechenzusammensetzung
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1977 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120010861 |
| Erschienen in | Mikrochimica Acta |
| Seiten | 437-47 |
| Erscheinungsvermerk | Internat.Symposium on Microchemical Techniques, Davos, May 22-27, 1977, (1977) II |