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A quantitative monitor for beam intensity and polarization profiles

Haeberli, W.; Henneck, R.; Jacquemart, Ch.; Lang, J.; Mueller, R.; Simonius, M.; Reichart, W.; Weddigen, Ch.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kernphysik (IK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1979
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120013586
Erschienen in Nuclear Instruments and Methods
Band 163
Seiten 403-13
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