A quantitative monitor for beam intensity and polarization profiles

Haeberli, W.; Henneck, R.; Jacquemart, Ch.; Lang, J.; Mueller, R.; Simonius, M.; Reichart, W.; Weddigen, Ch.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Kernphysik (IK)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1979
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 120013586
Erschienen in	Nuclear Instruments and Methods
Band	163
Seiten	403-13