X-ray-diffraction studies on He- and Ar-irradiated Nb₃Ge thin films
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Kernphysik (IAK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1979 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120014203 |
| Erschienen in | Solid State Communications |
| Band | 32 |
| Heft | 11 |
| Seiten | 1143-46 |
| Erscheinungsvermerk | Sonderdruck in KfK-3059 (September 80) |