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Secondary fluorescence induced in elements in the micrometer vicinity of ion microprobe spots in PIXE experiments

Heck, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1981
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120015640
Erschienen in Nuclear Instruments and Methods
Band 191
Seiten 579-82
Erscheinungsvermerk Bird, J.R.; Clarc, G.J. [Hrsg.] Proc.of the 5th Internat.Conf.on Ion Beam Analysis, Sydney, AUS, February 16-20, 1981
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