The influence of secondary fluorescence from elements adjacent to the microbeam spot on local concentration determination with PIXE
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Kernphysik (IAK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1981 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120015732 |
| Erschienen in | Nuclear Instruments and Methods |
| Band | 181 |
| Seiten | 135-39 |
| Erscheinungsvermerk | Proc.of the 2nd Internat.Conf.on Particle Induced X-Ray Emission and its Analytical Applications, Lund, S, June 9-12, 1980 |