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The influence of secondary fluorescence from elements adjacent to the microbeam spot on local concentration determination with PIXE

Heck, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1981
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120015732
Erschienen in Nuclear Instruments and Methods
Band 181
Seiten 135-39
Erscheinungsvermerk Proc.of the 2nd Internat.Conf.on Particle Induced X-Ray Emission and its Analytical Applications, Lund, S, June 9-12, 1980
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