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Determination of defect structures by ion-channelling and by X-ray diffraction. A comparative study

Kaufmann, R.; Linker, G.; Meyer, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1981
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120016182
Band 191
Seiten 532-36
Erscheinungsvermerk Bird, J.R.; Clark, G.J. [Hrsg.] Proc.of the 5th Internat.Conf.on Ion Beam Analysis, Sydney, AUS, February 16-20, 1981 Nuclear Instruments and Mathods
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