Application of the channeling and X-ray diffraction techniques for defect analyses
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1984 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120018357 |
| Erschienen in | Nuclear Instruments and Methods |
| Band | 218 |
| Seiten | 647-51 |
| Erscheinungsvermerk | Proc.of the 6th Internat.Conf.on Ion Beam Analysis, Tempe, Ariz., May 23-27, 1983,(1983) |