KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Local matrix mass thickness determination in scanned micropixe by proton backscattering

Heck, D.; Rokita, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kernphysik (IK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1984
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120018661
Erschienen in Nuclear Instruments and Methods
Band 231
Seiten 259-62
Erscheinungsvermerk 3rd Internat.Conf.on Particle Induced X-Ray Emission (PIXE) and its Analytical Applications, Heidelberg, July 18-22, 1983, B3
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page