Local matrix mass thickness determination in scanned micropixe by proton backscattering
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Kernphysik (IK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1984 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120018661 |
| Erschienen in | Nuclear Instruments and Methods |
| Band | 231 |
| Seiten | 259-62 |
| Erscheinungsvermerk | 3rd Internat.Conf.on Particle Induced X-Ray Emission (PIXE) and its Analytical Applications, Heidelberg, July 18-22, 1983, B3 |