Microanalytical investigation of sintered SiC. Part II: Study of the grain boundaries of sintered SiC by high resolution Auger electron spectroscopy
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1983 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120019349 |
| Erschienen in | Journal of Materials Science |
| Band | 18 |
| Seiten | 3154-60 |