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Microanalytical investigation of sintered SiC. Part II: Study of the grain boundaries of sintered SiC by high resolution Auger electron spectroscopy

Hamminger, R.; Grathwohl, G.; Thuemmler, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1983
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120019349
Erschienen in Journal of Materials Science
Band 18
Seiten 3154-60
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