Temperature dependence of the electric field gradient in CdSe and HfO₂

Barfuss, H.; Boehnlein, G.; Hohenstein, H.; Kreische, W.; Niedrig, H.; Appel, H.; Heidinger, R.; Raudies, J.; Then, G.; Thies, W. G.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Genetik und für Toxikologie von Spaltstoffen (IGT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1983
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 120019387
Erschienen in	Zeitschrift für Physik B - Condensed Matter
Band	47
Seiten	99-102
Erscheinungsvermerk	Condensed Matter,(1982)