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Fading characteristic of LiF and Li₂B₄O₇ TLD systems dependent on the ambient temperature, the monitoring period and the interval between irradiation and readout

Burgkhardt, B.; Piesch, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Hauptabteilung Sicherheit (HS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1984
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120019933
Erschienen in Radiation Protection Dosimetry
Band 6
Seiten 338-40
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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