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Dielectric properties of TiCₓ, TiNₓ, VCₓ, and VNₓ from 1.5 to 40 eV determined by electron-energy-loss spectroscopy

Pflueger, J.; Fink, J.; Weber, W.; Bohnen, K. P.; Crecelius, G.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1984
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120020381
Erschienen in Physical Review B
Band 30
Seiten 1155-63
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