Dielectric properties of TiCₓ, TiNₓ, VCₓ, and VNₓ from 1.5 to 40 eV determined by electron-energy-loss spectroscopy

Pflueger, J.; Fink, J.; Weber, W.; Bohnen, K. P.; Crecelius, G.

Seitenaufrufe: 41
seit 29.04.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1984
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 120020381
Erschienen in	Physical Review B
Band	30
Seiten	1155-63