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Measurement of oxygen depth profiles using the¹⁶O(d, α)¹⁴N reaction and a fast pulse pile-up rejection circuit

Haase, E. L.; Khubeis, I.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1985
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120021547
Erschienen in Nuclear Instruments and Methods B
Seiten 727-34
Erscheinungsvermerk 10/11(1985)
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