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The determination of lattice parameters and strains in stressed thin films using X-ray diffraction with Seemann-Bohlin focusing

Haase, E. L.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1985
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120021622
Erschienen in Thin Solid Films
Band 124
Seiten 283-91
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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