The determination of lattice parameters and strains in stressed thin films using X-ray diffraction with Seemann-Bohlin focusing
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1985 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120021622 |
| Erschienen in | Thin Solid Films |
| Band | 124 |
| Seiten | 283-91 |