High-resolution electron microscopy of high-Tsub(c) polycrystalline Nb₃Ge fabrics

Kitano, Y.; Nissen, H. U.; Wessicken, R.; Yin, D.; Schauer, W.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1985
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 120021874
Erschienen in	Journal of Applied Physics
Band	58
Seiten	1904-09