The use of pattern recognition for classification of stochastic specimens by a set of standard specimens
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1985 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 120022148 |
| Erschienen in | Journal of Microscopy |
| Band | 138 |
| Seiten | 153-60 |