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PACOS - programmgesteuerte Bildanalyse

Vollath, D.; Friehmelt, R.; Nasraoui, A.; Pecht, J.; Stiller, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1986
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 120022660
Erschienen in Umschau
Band 86
Seiten 90-97
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