PACOS - programmgesteuerte Bildanalyse

Vollath, D.; Friehmelt, R.; Nasraoui, A.; Pecht, J.; Stiller, P.

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seit 16.08.2020

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1986
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 120022660
Erschienen in	Umschau
Band	86
Seiten	90-97