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Characterization of Ga-doped solid phase-MBE silicon

Vescan, L.; Kasper, E.; Meyer, O.; Maier, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1986
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120023115
Erschienen in Journal of Crystal Growth
Band 73
Seiten 482-86
Erscheinungsvermerk (1985)
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