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Temperature dependence of the electric field gradient in HfF₄.HF.2H₂O

Thies, W.G.; Appel, H.; Heidinger, R.; Then, G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Genetik und für Toxikologie von Spaltstoffen (IGT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1986
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120023205
Erschienen in Hyperfine Interactions
Band 30
Seiten 153-65
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