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Single-crystal time-of-flight neutron diffraction of Cr₃Si and MnF₂: comparison with monochromatic-beam techniques

Jauch, W.; Schultz, A.J.; Heger, G.



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seit 02.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1987
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120024317
Erschienen in Journal of Applied Crystallography
Band 20
Seiten 117-19
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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