Migration of high energy defects after Pd-implantation in oxide films on titanium

Elfenthal, L.; Leitner, K.; Schultze, J. W.; Meyer, O.

Seitenaufrufe: 24
seit 02.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1987
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 120024427
Erschienen in	Berichte der Bunsengesellschaft
Band	91
Seiten	432-37
Erscheinungsvermerk	fuer Physikalische Chemie