Analysis of X-ray diffraction data from nitrogen implanted polycristalline Mo and Nb films - defect clusters

Rao, S. I.; Houska, C. R.; Grabowski, K. S.; Linker, G.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1987
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 120024598
Erschienen in	Nuclear Instruments and Methods B
Band	27
Seiten	396-401