KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Analysis of X-ray diffraction data from nitrogen implanted polycristalline Mo and Nb films - defect clusters

Rao, S.I.; Houska, C.R.; Grabowski, K.S.; Linker, G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1987
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120024598
Erschienen in Nuclear Instruments and Methods B
Band 27
Seiten 396-401
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page