Analysis of X-ray diffraction data from nitrogen implanted polycristalline Mo and Nb films - defect clusters

Rao, S. I.; Houska, C. R.; Grabowski, K. S.; Linker, G.

Seitenaufrufe: 24
seit 02.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1987
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 120024598
Erschienen in	Nuclear Instruments and Methods B
Band	27
Seiten	396-401