Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Radiochemie (IRCH) |
Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
Publikationsjahr | 1988 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 120024947 |
Erschienen in | Journal of Research of the National Bureau of Standards |
Band | 93 |
Seiten | 493-95 |
Erscheinungsvermerk | Symp.on Accuracy in Trace Analysis - Accomplishments, Goals, Challenges, Gaithersburg, Md., September 28 - October 1, 1987 |