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On angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy of oxides, serrations, and protusions at interfaces

Darlinski, A.; Halbritter, J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kernphysik (IK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1987
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 120025010
Erschienen in Journal of Vacuum Science and Technology
Band A5
Seiten 1235-40
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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