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Scanning Auger microscopy as applied to the analysis of highly textured YBa₂Cu₃Oₓ thin films

Keim, E.G.; Halbritter, J.; Haeuser, B.; Rogalla, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kernphysik (IK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 120026587
HGF-Programm 14.04.01; LK 01
Erschienen in Journal of the Less Common Metals
Band 151
Seiten 23-29
Erscheinungsvermerk Proc.of the Symp.on High Temperature Superconductors - Preparation and Applications, at the E-MRS Fall Meeting, Strasbourg, November 8-10, 1988 Part 2
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